METODI OTTICI SPETTROSCOPICI PER LO STUDIO DEI MATERIALI

METODI OTTICI SPETTROSCOPICI PER LO STUDIO DEI MATERIALI

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iten
Codice
61864
ANNO ACCADEMICO
2019/2020
CFU
6 cfu al 1° anno di 9012 FISICA (LM-17) GENOVA

6 CFU al 2° anno di 9017 SCIENZA E INGEGNERIA DEI MATERIALI (LM-53) GENOVA

6 CFU al 1° anno di 9017 SCIENZA E INGEGNERIA DEI MATERIALI (LM-53) GENOVA

SETTORE SCIENTIFICO DISCIPLINARE
FIS/01
LINGUA
Italiano
SEDE
GENOVA (FISICA)
periodo
2° Semestre
materiale didattico

PRESENTAZIONE

Si tratta di un corso sulle  proprietà ottiche dei materiali e sui metodi sperimentali di base per studiarle.  Il corso  illustra in particolare il metodo dell' ellissometria spettroscopica. Sono  richieste conoscenze di base di elettromagnetismo nei dielettrici, onde,  fisica dello stato solido. Il corso è  rivolto prevalentemente a studenti in fisica della materia, scienza dei materiali e chimica.

OBIETTIVI E CONTENUTI

OBIETTIVI FORMATIVI

Il corso ha lo scopo di offrire un’introduzione di base ai principali metodi spettroscopici per lo studio delle proprietà ottiche dei materiali.

OBIETTIVI FORMATIVI (DETTAGLIO) E RISULTATI DI APPRENDIMENTO

Fornire una introduzione esauriente ai processi di interazione della luce con varie classi di materiali nell’ambito dell’ottica lineare, con riferimento alle applicazioni scientifiche e tecnologiche più recenti.  Una parte rilevante del corso riguarda l'applicazione dei metodi ottici ai nanomateriali quali film ultrasottili e nanoparticelle. Attraverso l'attività di laboratorio si vogliono sviluppare competenze di base di spettroscopia ottica e di ellissometria spettroscopica. 

Modalità didattiche

Lezioni frontali. Dimostrazioni in laboratorio. Esercitazioni in laboratorio.

PROGRAMMA/CONTENUTO

A. Modelli Classici

1. Introduzione

Processi ottici fondamentali. Classificazione dei materiali rispetto alle loro proprietà ottiche.

2. Propagazione classica nei dielettrici omogenei e isotropi.

Oscillatore di Lorentz. Funzione dielettrica e indice di rifrazione complesso.  Modello a molte risonanze.  Relazioni di Kramers- Kronig.   Dispersione normale e formule di interpolazione per l’indice di rifrazione (Cauchy, Sellmeyer).  Proprietà ottiche dei vetri e altri isolanti amorfi. Conseguenze della dispersione. Prismi. Dispersione della velocità di gruppo.

3. Modelli  classici per i metalli

Modello di Drude per portatori liberi. Funzione dielettrica dei metalli semplici.  Limite delle basse frequenze. Frequenza di plasma. Oscillazioni di plasma  del gas di elettroni liberi.  Il caso dell’alluminio.  

4. Materiali non omogenei

Relazione di Clausius – Mossotti. Mezzi dielettrici eterogenei.  Approssimazione di mezzo efficace:  formule  di Maxwell-Garnett, Bruggeman, Lorentz-Lorenz.

5. Dielettrici anisotropi

Birifrangenza. Raggio ordinario e straordinario. Calcite.  Tensore dielettrico.

B.   Interfacce: riflessione e rifrazione

6.  Formalismo di Jones.

Coefficienti di Fresnel.  Angolo di Brewster. Angolo critico. Rappresentazione di Jones degli stati di polarizzazione. Matrici di Jones.  Descrizione matriciale dei principali componenti ottici ( con dimostrazioni  in laboratorio).

7.  Riflettometria ed ellissometria

Riflettività.  Ellissometria: Δ e Ψ. Relazione fondamentale dell’ellissometria. Riflettività ed ellissometria da un sistema isotropo substrato + film sottile.  Strumentazione e metodi di misura.  Ellissometria di zero ( con dimostrazione in laboratorio) .  Ellissometria spettroscopica: principali configurazioni ( con dimostrazioni in laboratorio). Funzione di trasferimento del sistema ellissometro/campione con il metodo delle matrici di Jones.   
Esperienza di laboratorio: riflettometria ed ellissometria spettroscopica da semplici sistemi: superfici di Au e di vetri. Effetti di superficie: rugosità e contaminazione
Esperienza di laboratorio:  ellissometria  spettroscopica da film sottili ed  ultrasottili. Misura dello spessore di uno strato di ossido  su Si  (regione di trasparenza)

 

C.   Modelli semi-classici per l’assorbimento

8.  Transizioni interbanda

Struttura a bande semplificata di semiconduttori. Gap diretto: calcolo della probabilità di transizione vicino alla soglia di assorbimento.  Gap indiretto: transizioni assistite da fononi.  Confronto con dati sperimentali.  Effetti di bassa temperatura. Struttura a bande complete. Transizioni lontane dalla soglia: effetti del parallelismo tra bande.  Soglia di assorbimento in ossidi amorfi.   Transizioni interbanda nei metalli nobili.
Esperienza di laboratorio:  ellissometria spettroscopica da wafer di Si (regione di assorbimento)
Esperienza di laboratorio:  ellissometria spettroscopica da film di ossidi amorfi. Determinazione del gap ottico.

9.  Eccitoni. Processi di luminescenza

Eccitoni in materiali puri: dati sperimentali.  Eccitoni fortemente e debolmente legati. Semplici modelli.  Semiconduttori molecolari.  Processi e misure di luminescenza.  Materiali per LED ( eterostrutture). Materiali per applicazioni fotovoltaiche.

D.   Film sottili, ultrasottili  e nanostrutturati 

10.  Nanoparticelle

Proprietà ottiche di particelle metalliche. Assorbimento e scattering. Risonanze plasmoniche.  Aggregati di particelle. Materiali nanogranulari e nanoporosi. Sistemi 2D organizzati di nanoparticelle metalliche. Plasmonica nel visibile e nell’UV.  Metodi ottici spettroscopici per lo studio di  proprietà ottiche di nanostrutture a semiconduttore per la fotonica ( seminario ad invito).

11.  Film ultrasottili

Film Langmuir-Blodgett  e self-assembled monolayers organici. Nuovi materiali 2D: proprietà ottiche del grafene.

12.  Multistrati sottili

Calcolo del coefficiente di riflessione e trasmissione per i multistrati. Specchi e  filtri ottici interferenziali. Specchi “perfetti” per interferometri.  Metamateriali. Cristalli fotonici ( seminario ad invito). Riflettori di Bragg naturali (cenni).  Film ultrasottili magnetici. Effetto Kerr magneto-ottico.

Esperienza di laboratorio: ellissometria spettroscopica da multistrati di ossidi amorfi

13. Spettroscopia Raman 

Principi. Strumentazione di base. Spettroscopia Raman "surface-enhanced"

TESTI/BIBLIOGRAFIA

Libro di testo: M. Fox, Optical properties of Solids, Oxford University press

 

Saranno inoltre disponibili su aulaweb gli appunti (slides) del corso.

Testi utili per consultazione ( disponibili presso la biblioteca del DIFI):

H. Arwin, Thin Film Optics and Polarized Light

O. Stenzel The Physics of Thin Film Optical Spectra, Springer

E. Hecht, Optics, Addison Wesley

H. Tompkins, W.A. Mc Gahan, Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry, Wiley,

DOCENTI E COMMISSIONI

Ricevimento: Orario di ricevimento: mercoledì pomeriggio (15.30-18.30)  previo appuntamento da fissarsi via e-mail almeno 24 ore prima.

Commissione d'esame

MAURIZIO CANEPA (Presidente)

LORENZO MATTERA

MICHELE MAGNOZZI

FRANCESCO BISIO

LEZIONI

Modalità didattiche

Lezioni frontali. Dimostrazioni in laboratorio. Esercitazioni in laboratorio.

INIZIO LEZIONI

Prima settimana di marzo 2018. Si contatti il docente per maggiori informazioni.

ESAMI

Modalità d'esame

Seminario dello studente su un argomento di ricerca che sviluppi uno o più temi del corso. Il tema del seminario è da concordarsi con il docente almeno tre settimane prima dell'esame.

Modalità di accertamento

Presenza frequente ed attiva alle lezioni e alle attività di laboratorio.  Valutazione del seminario proposto in sede di esame: coerenza con gli obbiettivi formativi del corso, validità e grado di approfondimento dei contenuti presentati,  capacità di analisi critica degli argomenti trattati.