ADVANCED MICROSCOPY

ADVANCED MICROSCOPY

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iten
Codice
94830
ANNO ACCADEMICO
2019/2020
CFU
3 cfu al 2° anno di 9017 SCIENZA E INGEGNERIA DEI MATERIALI (LM-53) GENOVA
SETTORE SCIENTIFICO DISCIPLINARE
CHIM/03
LINGUA
Inglese
SEDE
GENOVA (SCIENZA E INGEGNERIA DEI MATERIALI )
periodo
2° Semestre
materiale didattico

PRESENTAZIONE

Comprensione dei fondamenti delle tecniche di microscopia elettronica e delle spettroscopie correlate, applicate alla scienza dei materiali.

OBIETTIVI E CONTENUTI

OBIETTIVI FORMATIVI

Understanding the fundamentals of electron microscopies and energy dispersive x-ray spectroscopy, which permit the observation and characterization of heterogeneous organic and inorganic materials.

OBIETTIVI FORMATIVI (DETTAGLIO) E RISULTATI DI APPRENDIMENTO

Comprensione dei fondamenti delle microscopie elettroniche e della spettroscopia a raggi X a dispersione di energia, che consentono l'osservazione e la caratterizzazione di materiali eterogenei, organici ed inorganici.

Al termine del corso lo studente avrà acquisito conoscenze teoriche sui microscopi (SEM e TEM)  che utilizzano come radiazione un fascio di elettroni; in particolare conoscerà il funzionamento dei singoli componenti della colonna ottica, i segnali generati in seguito alla interazione tra fascio elettronico e campione, come visualizzarli e come analizzarli.

Nella parte pratica gli studenti avranno modo di vedere come si opera sul SEM e sul TEM rispettivamente.

Modalità didattiche

Lezioni frontali in aula e 3 esercitazioni in laboratorio allo strumento (tipicamente una sessione al SEM, una al FESEM e una al TEM).

PROGRAMMA/CONTENUTO

Scanning electron microscopy and microprobe: electron optics, electron beam - specimen interaction, signal detection, image formation, contrast types. EDX and WDX spectroscopy; qualitative and quantitative x-ray analysis.

Transmission electron microscopy: elastic and inelastic scattering phenomena. The microscope: the illumination system, the objective lens and stage, the imaging system. Introduction to the different types of contrast. Introduction to electron diffraction. Sample preparation techniques.

TESTI/BIBLIOGRAFIA

“Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis”, J.I. Goldstein, D.E. Newbury, P. Echlin, D.C. Joy, A.D. Romig, Jr., C.E. Lyman, C. Fiori, E. Lifshin, Plenum Press, 1992.

“Trasmission Electron Microscopy”, D.B. Williams and C.B. Carter, Plenum Press, 1996.

DOCENTI E COMMISSIONI

Ricevimento: Tutti i giorni su appuntamento

LEZIONI

Modalità didattiche

Lezioni frontali in aula e 3 esercitazioni in laboratorio allo strumento (tipicamente una sessione al SEM, una al FESEM e una al TEM).

INIZIO LEZIONI

Secondo semestre

ESAMI

Modalità d'esame

Esame scritto della durata di 2h con domande aperte.

Modalità di accertamento

Lo studente dovrà rispondere in forma scritta ad alcune domande sugli argomenti trattati nel corso.

Delle 5 domande presentate, 3 verteranno sul SEM e 2 sul TEM.

Lo studente dovrà rispondere a 2 delle 3 domande sul SEM e a 1 delle 2 domande sul TEM.

A richiesta dello studente, è possibile sostenere ANCHE un breve esame orale.